Kai-Yuan Cai
Software Defect and Operational Profile Modeling
Paperback Engels 2012 9781461375593
Verwachte levertijd ongeveer 9 werkdagen
Samenvatting
also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
Specificaties
ISBN13:9781461375593
Taal:Engels
Bindwijze:paperback
Aantal pagina's:268
Uitgever:Springer US
Druk:0
Hoofdrubriek:Programmeren, Computer en informatica
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Inhoudsopgave
Preface. 1. Introduction. 2. Empirical Regression Methods. 3. Dynamic Methods. 4. Capture-Recapture Methods. 5. Decomposition Methods. 6. Neural Network Methods. 7. Software Defect Estimations Under Imperfect Debugging. 8. Software Operational Profile Modelling. 9. Modeling of Probably Zero-Defect Software. Index.
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan